VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)

Name: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Price: 1604238.00 PYG
Availability: OutOfStock

ID del producto: 298894284

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Descripción

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)

Preguntas comunes

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Trustscore 4.5 | Más de 7,300 reseñas

Por Ravi S.

Me encantó la variedad de productos disponibles. Definitivamente volveré a comprar.

Hace 2 meses

Farhan Q.

El tiempo de entrega fue excelente y el embalaje fue seguro.

Hace 2 meses

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Fátima A.

El mejor envío internacional que he probado. ¡Vale cada centavo!

Hace 3 días

Khalid Z.

Gran experiencia desde el pedido hasta la entrega. ¡Muy recomendable!

Hace 1 semana

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